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    發(fā)布信息

    光學(xué)輪廓儀測粗糙度

    點(diǎn)擊圖片查看原圖
    品牌: 中圖儀器
    可測樣品反射率: 0.05%~100%
    工作溫度: 15℃~30℃
    相對濕度: 5%~95%RH,無凝露
    單價(jià): 面議
    所在地: 廣東 深圳市
    有效期至: 長期有效
    最后更新: 2023-07-06 14:56
    瀏覽次數(shù): 272
    詢價(jià)
    店鋪基本資料信息
     
    產(chǎn)品詳細(xì)說明
     SuperViewW1光學(xué)輪廓儀測粗糙度是以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌的光學(xué)測量儀器。測量三維形貌的系統(tǒng)原理是在視場范圍內(nèi)從樣品表面底部到頂部逐層掃描,獲得數(shù)百幅干涉條紋圖像,找到該過程中每一個(gè)像素點(diǎn)處于光強(qiáng)***大時(shí)的位置,完成3D重建。

     

    W1光學(xué)3D表面輪廓測量儀,光學(xué)輪廓儀.jpg

    產(chǎn)品功能

    1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

    2)測量中提供自動(dòng)對焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;

    3)測量中提供自動(dòng)拼接測量、定位自動(dòng)多區(qū)域測量功能;

    4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

    5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

    6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

     

    結(jié)果組成:

    1、三維表面結(jié)構(gòu):粗糙度,波紋度,表面結(jié)構(gòu),缺陷分析,晶粒分析等;

    2、二維圖像分析:距離,半徑,斜坡,格子圖,輪廓線等;

    3、表界面測量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;

    4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測量;

    5、劃痕形貌,摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量;

    6、微電子表面分析和MEMS表征。

     

    W1光學(xué)3D表面輪廓測量儀,光學(xué)輪廓儀.jpg

    部分參數(shù)

    Z向分辨率:0.1nm

    橫向分辨率(0.5λ/NA):100X~2.5X:0.5um~3.7um

    粗糙度RMS重復(fù)性:0.1nm

    表面形貌重復(fù)性:0.1nm

    臺(tái)階測量重復(fù)性:0.1% 1σ;準(zhǔn)確度:0.75%

    注釋:更多詳細(xì)產(chǎn)品信息,請聯(lián)系我們獲取

     

    光學(xué)輪廓儀測粗糙度主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓,也能測量晶圓翹曲度,適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。

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