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    基恩士發(fā)布形狀測量激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系列

    放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2014-10-10     來源:[標簽:出處]     作者:[標簽:作者]     瀏覽次數:148
    核心提示:
    顯微系統(tǒng)VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現無與倫比的高分辨率大范圍形狀測量。

      高分辨率,大景深觀察

      (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍

      (2) 完全聚焦的清晰圖像

     。3) 符合溯源性要求

      仿佛彩色 SEM

      (1) 16 bit 激光彩色觀察

     。2) 放置并且測量,您可以在幾秒鐘內進行分析

     。3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量?刹鹦稖y量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。

      無損輪廓和粗糙度測量

      (1) 非接觸式設計,可用于測量軟質的工件

     。2) 方便定位測量區(qū)域

     。3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小

    激光顯微系統(tǒng)VK-X100/X200系類

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